Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia Przetarg publiczny
Rodzaj zamówienia Dostawy
Tytuł Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
Zamawiający

Dostępne dla zalogowanych

Miejsce realizacji Warszawa
Data publikacji 2026-03-19
Data składania ofert 27/03/2026
Dokumenty do pobrania

Dostępne dla zalogowanych

Kod CPV 384100002 Przyrządy pomiarowe
Numer przetargu 7038801