Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia Wynik
Rodzaj zamówienia Dostawy
Tytuł Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
Zamawiający

Dostępne dla zalogowanych

Miejsce realizacji Warszawa
Data publikacji 2026-05-12
Dotyczy zamówienia
Kod CPV 384100002 Przyrządy pomiarowe
Numer wyniku 7161451