Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia Korekta
Rodzaj zamówienia Dostawy
Tytuł Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
Zamawiający

Dostępne dla zalogowanych

Miejsce realizacji Warszawa
Data publikacji 2026-03-25
Data składania ofert 31/03/2026, Godzina 09:00
Dokumenty do pobrania

Dostępne dla zalogowanych

Dotyczy zamówienia
Kod CPV 384100002 Przyrządy pomiarowe
Numer korekty 7052189