Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia Wynik
Rodzaj zamówienia Dostawy
Tytuł Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Zamawiający

Dostępne dla zalogowanych

Miejsce realizacji mazowieckie
Data publikacji 2025-03-07
Kod CPV 385000000 Aparatura kontrolna i badawcza
Numer wyniku 6104399