Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia Przetarg publiczny
Rodzaj zamówienia Dostawy
Tytuł Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Zamawiający

Dostępne dla zalogowanych

Miejsce realizacji mazowieckie
Data publikacji 2025-01-15
Data składania ofert 14/02/2025, Godzina 10:00
Dokumenty do pobrania

Dostępne dla zalogowanych

Kod CPV 385000000 Aparatura kontrolna i badawcza
Numer przetargu 5976740