Spektrofotometr UV-Vis 1szt. 2. Spektrometr FT-IR 1szt.

Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny

Tryb zamówienia	Zapytanie ofertowe
Rodzaj zamówienia	Dostawy
Tytuł	Spektrofotometr UV-Vis 1szt. 2. Spektrometr FT-IR 1szt.
Zamawiający	Dostępne dla zalogowanych
Miejsce realizacji	Parczew
Data publikacji	2024-11-28
Data składania ofert	06/12/2024, Godzina 23:59
Dokumenty do pobrania	Dostępne dla zalogowanych
Kod CPV	384330009 Spektrometry
Numer przetargu	5859817

<div>
<h1>1. Spektrofotometr UV-Vis 1szt. 2. Spektrometr FT-IR 1szt.</h1>
<h2>Załączniki</h2>
<ul>
<li><a href="https://bazakonkurencyjnosci.funduszeeuropejskie.gov.pl/api/files/1705065">Załączniki do zapytania ofertowego</a></li>
<li><a href="https://bazakonkurencyjnosci.funduszeeuropejskie.gov.pl/api/files/1705122">Zapytanie of_spektrometry</a></li>
</ul>
<h2>Części zam&oacute;wienia</h2>
<h3>1. Spektrofotometr UV-Vis 1szt. 2. Spektrometr FT-IR 1szt.</h3>
Przedmioty zam&oacute;wienia
Przedmiotem zam&oacute;wienia jest : 1. Spektrofotometr UV-Vis 1szt. 2. Spektrometr FT-IR 1szt. SPECYFIKACJA 1. Spektrofotometr UV-Vis - dwuwiązkowy, skanujący spektrofotometr UV-Vis pracujący w zakresie spektralnym 190-1100 nm z oprogramowaniem sterującym &bull; Skanujący spektrofotometr UV-Vis pracujący w zakresie spektralnym 190-1100 nm, posiadający dwa gniazda pomiarowe umożliwiające jednoczesny pomiar pr&oacute;bki i odnośnika, przystosowany do analizy tworzyw sztucznych &bull; Oddzielna komora dla pr&oacute;by odniesienia. &bull; Zmienna szczelina spektralna co najmniej 1 nm i 2 nm z systemem zmiennej geometrii wiązki umożliwiającej optymalne dopasowanie do:  pomiar&oacute;w w mikrokuwetach - prostokątna o wymiarach nie większych niż 0,35x1,8 mm (SBW: 2 nm),  pomiar&oacute;w przy pomocy sond światłowodowych - okrągła o średnicy ok. 1 mm (SBW: 4,5 nm),  pomiar&oacute;w odbiciowych ciał stałych - okrągła o średnicy ok. 3,5 mm średnicy (SBW: 15 nm) &ndash; z zastosowaniem sfery integrującej. &bull; Monochromator typu Czerny Turnera. &bull; Szybkość przesuwu monochromatora co najmniej 31 000 nm/min. &bull; Możliwość pomiar&oacute;w z otwartą komorą pomiarową. &bull; Źr&oacute;dło światła - pulsacyjna lampa ksenonowa objęta co najmniej 3-letnią gwarancją. Lampa uruchamiana tylko podczas pomiaru pr&oacute;bki. &bull; Diagnostyka systemu przy każdorazowym włączeniu. &bull; Wbudowane funkcje walidacyjne i funkcje automatycznego sprawdzania poprawności działania sprzętu. &bull; Wbudowany port umożliwiający podłączenie lampy rtęciowej do kalibracji i sprawdzania dokładności i powtarzalności długości fali. &bull; Wymienny moduł detektora. Możliwość pracy z akcesoriami posiadającymi własne zintegrowane detektory. &bull; Automatyczne wykrywanie i rejestracja przystawek (przystawki typu plug and play). &bull; Szybkość skanowania zmienna w zakresie co najmniej od 1 do 6 000 nm/min. &bull; Rozdzielczość cyfrowa - możliwość ustawienia co najmniej: 0,1; 0,2; 0,5; 1, 2, 5, 10 nm. &bull; Zakres fotometryczny co najmniej od -0,3 do 4 Abs. &bull; Dokładność długości fali nie gorsza niż &plusmn;0,5 nm. &bull; Powtarzalność długości fali nie gorsza niż &plusmn;0,05 nm. &bull; Dokładność fotometryczna nie gorsza niż &plusmn;0,004 Abs przy 1.0 Abs. &bull; Powtarzalność fotometryczna nie gorsza niż &plusmn;0,0002 Abs. &bull; Stabilność fotometryczna nie gorsza niż 0,0005 Abs/h. &bull; Światło rozproszone poniżej 0,05% przy 340 nm. &bull; Płaskość linii bazowej nie gorsza niż &plusmn;0.001 Abs. &bull; Odczyt wyniku co najmniej do 4-go miejsca po przecinku (0,0001). &bull; Sterowanie aparatu za pomocą zewnętrznego komputera pracującego w środowisku Windows (lub r&oacute;wnoważny). &bull; W zestawie z aparatem oprogramowanie na komputer umożliwiające sterowanie pracą spektrofotometru:  pracujące w środowisku Windows 10 lub nowszym (lub r&oacute;wnoważny),  oprogramowanie w języku polskim,  wymagane jest, aby oprogramowanie mogło być zainstalowane na dowolnej liczbie komputer&oacute;w opr&oacute;cz komputera sterującego, umożliwiając obr&oacute;bkę danych niezależnie od wykonywanego eksperymentu,  dostarczone na nośniku, np. pamięci przenośnej typu pendrive.  możliwość bezpłatnej aktualizacji oprogramowania dostępnej na stronie producenta,  oprogramowanie oparte na skoroszytach obejmujących co najmniej zestaw następujących element&oacute;w:  parametry pomiarowe aparatu,  konfigurację akcesori&oacute;w do pomiaru,  informację o pr&oacute;bkach,  informację o kalibracji w analizie ilościowej,  wyniki pomiaru pr&oacute;bek,  konfigurację raportu z przeprowadzonych pomiar&oacute;w. &bull; Funkcje oprogramowania, co najmniej:  możliwość pracy w trybie absorbancji, transmitancji, intensywności,  pomiary przy stałej długości fali z cyfrowym i graficznym wyświetleniem wynik&oacute;w i możliwością ustawienia kryteri&oacute;w tolerancji wynik&oacute;w,  pomiar i obr&oacute;bka widma z wyświetlaniem wynik&oacute;w w trybie Abs, %T, log A, log (1/R), intensywność, %R, Kubelka - Munk; z wyszukiwaniem charakterystycznych punkt&oacute;w widma - maksim&oacute;w i minim&oacute;w, przejść przez zero; wykonywaniem podstawowych operacji arytmetycznych na widmach: dodawanie, odejmowanie, dzielenie, mnożenie; wyznaczanie pochodnych, wygładzanie; z funkcjami wyznaczania wysokości pasma i pola powierzchni; z funkcją oceny koloru co najmniej: w skalach XYZ, xyY, L*a*b*, L*C*h* dla zakresu podstawowego 400-700nm, rozszerzonego 380-780 nm oraz pełnego 360-830 nm, z możliwością wyboru oświetlenia A, C, D65 i kąta obserwacji 2&deg; i 10&deg;;  pomiary ilościowe z krzywymi kalibracji (1., 2. i 3. stopnia z wymuszeniem przejścia przez zero lub nie), z podawaniem wsp&oacute;łczynnika korelacji, z wyborem do trzech powt&oacute;rzeń dla każdego wzorca, z możliwością wyłączenia wybranych pomiar&oacute;w wzorc&oacute;w i zmianą dopasowania krzywej, z wykonywaniem obliczeń na wynikach przy użyciu wbudowanego edytora r&oacute;wnań,  pomiary kinetyczne z pomiarem reakcji w segmentach z rożnymi czasami i r&oacute;żną częstotliwością pr&oacute;bkowania, funkcjami dopasowania danych dla reakcji zerowego, pierwszego i drugiego rzędu oraz analizą danych w wybranych segmentach,  pomiar w czasie rzeczywistym bez konieczności wyzwalania pomiaru,  możliwość wydruk&oacute;w raport&oacute;w zdefiniowanych przez użytkownika,  eksport wynik&oacute;w co najmniej w formatach XML, CSV i TSV. &bull; W zestawie z aparatem co najmniej:  2 uchwyty na kuwety prostokątne o długości drogi optycznej do 10 mm (jeden dla pr&oacute;bki, drugi dla odnośnika),  kuwety kwarcowe o długości drogi optycznej 10 mm z teflonową przykrywką, o pojemności 3.5 ml, umożliwiające pracę w zakresie spektralnym 190 - 2500 nm (2 szt.),  sfera integrująca wyposażona we własny detektor, pozwalająca na pomiary zar&oacute;wno odbiciowe jak i transmisyjne o parametrach co najmniej: &bull; średnica kuli 60 mm, &bull; wnętrze sfery nie ulegające degradacji w czasie, nie ulegające ż&oacute;łknięciu: pokryte materiałem typu Spectralon (lub r&oacute;wnoważny), &bull; zakres pomiarowy co najmniej 220-1100 nm, &bull; możliwość prowadzenia pomiar&oacute;w z włączeniem i wyłączeniem składowej zwierciadlanej, &bull; wyposażona w uchwyt na kuwety prostokątne o długości drogi optycznej do 50 mm do pomiaru pr&oacute;bek ciekłych, &bull; możliwość doposażenia w uchwyt do odbiciowych pomiar&oacute;w materiał&oacute;w sypkich, proszk&oacute;w,  uchwyt umożliwiający pomiary transmisyjne ciał stałych (płytki, filtry, folie) o r&oacute;żnych kształtach (okrągłe, prostokątne) i r&oacute;żnych rozmiarach, wbudowane w uchwyt mocowania magnetyczne umożliwiające pomiary cienkich folii, w zestawie co najmniej 5 pask&oacute;w magnetycznych o r&oacute;żne aperturze; uchwyt zlokalizowany po stronie detektora, z możliwością regulacji odległości pr&oacute;bki od detektora,  wsp&oacute;łpracująca ze spektrofotometrem jednostka sterująca o parametrach co najmniej: procesor klasy Intel i5 (lub r&oacute;wnoważny) (min. 3.4 GHz, 6-rdzeniowy), 16GB RAM, dysk SSD 256GB lub HDD 1TB SATA (lub r&oacute;wnoważny), 4 x port USB, DVD-RW, system operacyjny Windows 11 Pro (lub r&oacute;wnoważny), klawiatura i mysz optyczna, monitor co najmniej 21" LCD  oprogramowanie do oznaczania parametr&oacute;w badanych materiał&oacute;w (obliczenia wykonywane zar&oacute;wno w oparciu o pomiary transmisyjne jak i pomiary odbiciowe), co najmniej: &bull; wsp&oacute;łczynniki ochrony przeciwsłonecznej wg COLIPA, AS/NZS, &bull; wsp&oacute;łczynniki ochrony (UV, NIR), &bull; wsp&oacute;łczynnik przepuszczalności światła &tau;v i wsp&oacute;łczynnik odbicia światła &rho;v zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050, &bull; gł&oacute;wny wskaźnik wyrażania barwy Ra zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050, &bull; wsp&oacute;łczynnik przepuszczalności promieniowania ultrafioletowego &tau;uv zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050, &bull; wsp&oacute;łczynniki przepuszczalności wg EN, ANSI, JIST itp., &bull; ocena barwy/koloru XYZ, xyY, Lab* oraz LCh, r&oacute;żne kąty obserwacji, &bull; r&oacute;żne iluminanty zgodnie z CIE/DIN/ASTM, &bull; r&oacute;żnica barwy wg DIN 6174, CMC, &bull; ocena koloru wg Farmakopei Europejskiej, &bull; oznaczenia w skalach Apha/Hazen, Gardner, Iodine, &bull; indeksy bieli i zaż&oacute;łcenia wg ASTM, &bull; wsp&oacute;łczynniki oceny wg DIN (Q-factor) i British Rail, &bull; możliwość wprowadzania przez Użytkownika własnych metod obliczeniowych, &bull; zapis wynik&oacute;w w formacie: CSV, JCAMP  kabel zasilający,  kabel do komunikacji z komputerem. Wymagania dodatkowe: SZCZEG&Oacute;ŁOWY OPIS W ZAŁĄCZNIKU. 2. Spektrometr FT-IR do identyfikacji polimer&oacute;w 1. Zakres spektralny co najmniej 8 000 &ndash; 350 cm-1 2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0,5 cm-1 3. Rozdzielczość zmienna w zakresie co najmniej 0,5 &ndash; 32 cm-1 4. Zakres dynamiczny przetwornika ADC - 24 bity 5. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi opty-kę od przedziału pr&oacute;bek 6. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału pr&oacute;bek osuszonym gazem 7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera, padającą na tr&oacute;jpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru 8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe 9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu 10. Ceramiczne trwałe źr&oacute;dło promieniowania IR 11. Beamsplitter Ge/KBr 12. Detektor DLaTGS 13. Pasek LED - wizualizujący stan pomiaru i stan aparatu (w tym pokazujący skanowanie, stan inteligetnego tła, wizualne zobrazowanie poziomu dopasowania przy identyfikacji) 14. Laser p&oacute;łprzewodnikowy o stabilnej długości fali promieniowania zapewniający precyzję liczb falowych nie gorszą niż +/- 0,001 cm-1 15. Komunikacja spektrometru z komputerem przez złącze 16. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesori&oacute;w pomiarowych takich jak moduł do pomiar&oacute;w transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne 17. System osuszania optyki z wkładami osuszającymi w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkład&oacute;w osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu. Nie dopuszcza się system&oacute;w osuszania wymagających podłączenia aparatu do sieci elektrycznej. 18. Zestaw automatycznej weryfikacji osiąg&oacute;w (SPV) do monitorowana stanu systemu zapewniający diagnostykę element&oacute;w spektrometru i testy osiąg&oacute;w we normy ASTM E1421 19. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do .... Wymagania dodatkowe: SZCZEG&Oacute;ŁOWY OPIS W ZAŁĄCZNIKU.
<h2>Kryteria oceny</h2>
&bdquo;Cena&rdquo; - (waga 100%) - (C) zostanie obliczona wg wzoru: C = Co / Cb x 100 pkt. C - ilość punkt&oacute;w badanej ceny oferty. Co - cena brutto oferty najniższej spośr&oacute;d zaproponowanych w ofertach. Cb - cena brutto oferty badanej.
</div>